Optische Messtechnik
- Absolutprüfverfahren für Asphären unter Verwendung von Combo-Hologrammen
- Wellenfrontmessung mit Shearing-Interferometrie bei simultaner Erfassung beider Richtungsableitungen
- Interferometrische Vermessung eines hochgeöffneten Parabolspiegels
- Überlagerungsstreifen für Weißlichtinterferometrie und Empfindlichkeitssteigerung
- Homogenitätsprüfung von Glasplatten mittels Frequenzkamm-Interferometrie
- Reduzierung der Phasensingularitäten in der Speckle-Shearing-Interferometrie
- Gleichzeitige Bestimmung von Phase und Polarisation einer allgemeinen Welle
Projekte:
Mittelgeber: DFG-Einzelförderung / Sachbeihilfe (EIN-SBH)
Projektleitung:
Polarisationselemente, die auf Subwellenlängenstrukturen basieren, finden in der Optik zahlreiche Anwendungen. Ein Beispiel ist die Erzeugung von radial polarisiertem Licht, das u. a. in der Mikroskopie Verwendung findet, da mit seiner Hilfe besonders kleine und vollkommen rotationssymmetrische Foki erzeugt werden können. Da solche Elemente aber neben der Polarisation auch die Phase des Lichtes beeinflussen können, ist die gleichzeitige Vermessung von Phasenfront und Polarisationszustand des Lichts vo…
Mittelgeber: DFG-Einzelförderung / Sachbeihilfe (EIN-SBH)
Projektleitung:
Zur Messung von Deformationen rauher Objekte hat sich die Speckle-Interferometrie etabliert. Um besonders kompakte Aufbauten zu erreichen, werden dabei oft Shearing-Einheiten eingesetzt, wobei die Ableitung der Phaseninformation in Shearrichtung gemessen wird. Die in der Speckle- Interferometrie auftretenden Phasensingularitäten erschweren allerdings die Auswertung erheblich, da dann bei der Kontinuierung („phase unwrapping“) der gemessenen modulo-2π-Phasenwerte Vieldeutigkeiten auftreten. Um di…
Mittelgeber: DFG-Einzelförderung / Sachbeihilfe (EIN-SBH)
Projektleitung:
Das Ziel des Vorhabens “Interferometrie in streifender Inzidenz für steile und feinstgeschliffene raue Asphären” ist es, ein interferometrisches Prüfverfahren für konvexe, stark gekrümmte Asphären zu entwickeln, wobei vorteilhafterweise Laserlicht im VIS-Bereich und diffraktive optische Strahlteiler sowie VIS-Detektortechnologie zum Einsatz kommen sollen.